СДК предназначен для динамического тестового контроля цифровых узлов и устройств, а также для входного контроля цифровых микросхем.
Стенд обеспечивает в автоматическом режиме на рабочей частоте контролируемого объекта поиск и обнаружение неисправностей с локализацией до уровня сменной единицы.
количество контролируемых контактов в объекте контроля | от 48 до 192 |
напряжение тестовых сигналов | не более 5,5 В |
режим контроля | непрерывный циклический или однократный |
потребляемая мощность | не более 5 Вт |
Для тестирования кабеля с количеством выводов более 224 допускается объединение до четырех БКС с доведением количества контролируемых выводов до 896.
Получен патент № 2565474 на изобретение «Устройство тестового контроля».
Изготовлен экспериментальный образец СДК, прошедший успешную апробацию при выполнении лабораторных работ по курсу «Отладочные средства микропроцессорных систем» на кафедре ВС ИРТСиУ.